您的位置：網(wǎng)站首頁 > 產(chǎn)品中心 > 紫外掩膜對準(zhǔn)曝光系統(tǒng) >
product center
45年來，OAI始終是紫外能量測試儀器領(lǐng)域的*應(yīng)用商，其儀器用于半導(dǎo)體、微機電系統(tǒng)、晶圓封裝和晶圓植球行業(yè)中光刻工藝的可靠，精確校準(zhǔn)控制。 Model 659是一款手持式紫外功率計，配有觸摸屏和 USB 接口。通過使用特殊探頭（365nm、400nm、420nm 和 436nm），可以測量主要用于步進應(yīng)用的寬范圍波長。
OAI 200型光刻機和紫外掩膜曝光系統(tǒng)是一種經(jīng)濟高效的高性能工具，采用行業(yè)驗證的模塊化組件進行設(shè)計，使OAI成為MEMS，納米技術(shù)和半導(dǎo)體設(shè)備行業(yè)的ling xian者。
地址：廣東省深圳市寶安區(qū)鐵仔路九方廣場2棟902室
郵箱：support@firstnanosystem.com
傳真：400-9999-185
咨詢電話